3.11 方差分析中的非参数方法
3.11.1 Kruskal–Wallis 检验¶
在正态性假定不成立的情形下,试验者可能希望使用一种不依赖该假定的程序来替代 F 检验方差分析。Kruskal 和 Wallis(1952)提出了这样的程序。Kruskal–Wallis 检验用来检验的原假设是 a 个处理完全相同,备择假设是其中某些处理产生的观测值大于另一些处理。由于该程序的目的是对均值差异的检验足够灵敏,有时不妨把 Kruskal–Wallis 检验看作处理均值是否相等的检验。Kruskal–Wallis 检验是通常方差分析的一种非参数替代方法。
进行 Kruskal–Wallis 检验时,首先把观测值 yij 按升序排列,并把每个观测值替换为它的秩(rank),记为 Rij,最小的观测值秩为 1。出现结(ties)时(即观测值取值相同),给每个相连观测值赋予平均秩。设 Ri. 为第 i 个处理中秩的和。检验统计量为
H=S21[i=1∑aniRi.2−4N(N+1)2](3.65) 其中 ni 是第 i 个处理中的观测值个数,N 是观测值总数,而
S2=N−11[i=1∑aj=1∑niRij2−4N(N+1)2](3.66) 注意 S2 就是秩的方差。如果没有结,则 S2=N(N+1)/12,检验统计量简化为
H=N(N+1)12i=1∑aniRi.2−3(N+1)(3.67) 当结的数量适中时,式 3.66 与式 3.67 差别很小,可以使用较简单的形式(式 3.67)。如果 ni 相当大,例如 ni≥5,则在原假设下 H 近似服从 χa−12 分布。因此,若
H>χα,a−12 则拒绝原假设。也可以使用 P 值方法。
例 3.11¶
例 3.1 的数据及其相应的秩见表 3.21。数据中存在结,因此我们用式 3.65 作为检验统计量。由式 3.65
S2=191[2869.50−420(21)2]=34.97 检验统计量为
H=S21[i=1∑aniRi.2−4N(N+1)2]=34.971[2796.30−2205]=16.91 表 3.21 例 3.1 等离子体刻蚀试验的数据与秩
| 功率 | | | | | | | |
|---|
| 160 | | 180 | | 200 | | 220 | |
| y1j | R1j | y2j | R2j | y3j | R3j | y4j | R4j |
| 575 | 6 | 565 | 4 | 600 | 10 | 725 | 20 |
| 542 | 3 | 593 | 9 | 651 | 15 | 700 | 17 |
| 530 | 1 | 590 | 8 | 610 | 11.5 | 715 | 19 |
| 539 | 2 | 579 | 7 | 637 | 14 | 685 | 16 |
| 570 | 5 | 610 | 11.5 | 629 | 13 | 710 | 18 |
| Ri. | 17 | | 39.5 | | 63.5 | | 90 |
因为 H>χ0.01,32=11.34,我们拒绝原假设,并得出结论:各处理不同。(H=16.91 的 P 值为 P=7.38×10−4。)这与通常方差分析 F 检验给出的结论相同。
3.11.2 关于秩变换的一般评论¶
上一节所用的把观测值替换为其秩的程序称为秩变换(rank transformation)。它是一种非常强大且应用广泛的实用技术。如果我们对秩而不是原始数据应用通常的 F 检验,就会得到
F0=(N−1−H)/(N−a)H/(a−1)(3.68) 作为检验统计量[见 Conover(1980),第 337 页]。注意随着 Kruskal–Wallis 统计量 H 增大或减小,F0 也相应增大或减小,因此 Kruskal–Wallis 检验等价于对秩应用通常的方差分析。
对于不存在方差分析的非参数替代方法的试验设计问题,秩变换具有广泛的适用性,这包括本书后续章节中的许多设计。如果对数据取秩并应用通常的 F 检验,就会得到一个具有良好统计性质的近似程序[见 Conover 和 Iman(1976,1981)]。当我们担心正态性假定、或担心离群值或“异常”值的影响时,我们建议对原始数据和对秩各作一次通常的方差分析。当两种程序给出相似结果时,方差分析假定很可能得到相当好的满足,标准分析是令人满意的。当两种程序结果不同时,应当优先采用秩变换,因为它更不容易被非正态性和异常观测值扭曲。在这种情况下,试验者可能希望研究针对非正态性的变换,并检查数据和试验程序,以确定是否存在离群值以及它们为何出现。